TK 基因突變試劑盒的原理及優(yōu)勢
更新時(shí)間:2021-04-06 點(diǎn)擊次數(shù):2096
TK 基因突變試驗(yàn)的原理:
TK 基因突變試驗(yàn)的檢測終點(diǎn)是 TK 基因的突變。TK 基因突變屬于常染色體基因突變。
TK 基因的產(chǎn)物胸苷激酶在體內(nèi)催化從脫氧胸苷(TdR)生成胸苷酸(TMP)的反應(yīng)。在正常情況下,此反應(yīng)并非生命所必需,原因是體內(nèi)的 TMP 主要來自于脫氧尿嘧啶核苷酸(dUMP),即由胸苷酸合成酶催化的 dUMP 甲基化反應(yīng)生成 TMP。但如在細(xì)胞培養(yǎng)物中加入胸苷類似物(如三氟胸苷,即 trifluorothymidine,TFT),則 TFT 在胸苷激酶的催化下可生成三氟胸苷酸,進(jìn)而摻入 DNA,造成致死性突變,故細(xì)胞不能存活。若 TK 基因發(fā)生突變,導(dǎo)致胸苷激酶缺陷,則 TFT 不能磷酸化,亦不能摻 DNA,故突變細(xì)胞在含有 TFT 的培養(yǎng)基中能夠生長,即表現(xiàn)出對(duì) TFT 的抗性。根據(jù)突變集落形成數(shù)可計(jì)算突變頻率,從而推斷受試物的致突變性。在 TK 基因突變試驗(yàn)結(jié)果觀察中可發(fā)現(xiàn)兩類明顯不同集落,即大/小集落(L5178Y 細(xì)胞)或正常生長/緩慢生長集落(TK6 細(xì)胞),有研究表明,大集落/正常生長集落主要由點(diǎn)突變或較小范圍的缺失等引起,而小集落/緩慢生長集落主要由較大范圍的染色體畸變,或由涉及調(diào)控細(xì)胞增殖的基因缺失引起。
TK 基因突變試劑盒優(yōu)勢:
便捷—— 本試劑盒省去了誘導(dǎo) S9 制備,陽性底物、篩選培養(yǎng)基的配制和濃度條件摸索的時(shí)間,可以直接使用,大大縮短了實(shí)驗(yàn)周期。
準(zhǔn)確——本試劑盒各成分均經(jīng)過嚴(yán)格的質(zhì)量檢測,無雜菌污染,誘導(dǎo) S9 活性均符合 L5178Y 細(xì)胞基因突變試驗(yàn)要求,實(shí)驗(yàn)結(jié)果準(zhǔn)確、可靠、重現(xiàn)性高。
穩(wěn)定—— 本試劑盒穩(wěn)定性強(qiáng)、易于運(yùn)輸和保存。